【英文标准名称】:Semiconductordevices-Mechanicalandclimatictestmethods-Part34:Powercycling(IEC60749-34:2004);GermanversionEN60749-34:2004
【原文标准名称】:半导体器件.机械和气候试验方法.第34部分:电力循环
【标准号】:DINEN60749-34-2004
【标准状态】:作废
【国别】:德国
【发布日期】:2004-10
【实施或试行日期】:2004-10-01
【发布单位】:德国标准化学会(DE-DIN)
【起草单位】:
【标准类型】:()
【标准水平】:()
【中文主题词】:试验;定义;负载改变;模拟;环境试验;电子工程;电学测量;试验条件;机械试验;故障;半导体;电力电子学;气候试验;电气工程;半导体器件;耐力;组件;集成电路;电子设备及元件
【英文主题词】:Climatictests;Components;Definition;Definitions;Electricalengineering;Electricalmeasurement;Electronicengineering;Electronicequipmentandcomponents;Environmentaltesting;Failure;Integratedcircuits;Loadalternation;Mechanicaltesting;Powerelectronics;Resistance;Semiconductordevices;Semiconductors;Simulation;Testing;Testingconditions
【摘要】:Thistestmethodisusedtodeterminetheresistanceofasemiconductordevicetothermalandmechanicalstressesduetocyclingthepowerdissipationoftheinternalsemiconductordieandinternalconnectors.
【中国标准分类号】:L40
【国际标准分类号】:31_080_01
【页数】:11P.;A4
【正文语种】:德语