您的位置: 标准下载 » 国际标准 » NF 法国标准 »

NF S94-051-5-2006 外科植入物.金属材料.第5部分:锻制的钴-铬-钨-镍合金

时间:2024-05-12 16:15:18 来源: 标准资料网 作者:标准资料网 阅读:9342
下载地址: 点击此处下载
【英文标准名称】:Implantsforsurgery-Metallicmaterials-Part5:wroughtcobalt-chromium-tungsten-nickelalloy.
【原文标准名称】:外科植入物.金属材料.第5部分:锻制的钴-铬-钨-镍合金
【标准号】:NFS94-051-5-2006
【标准状态】:现行
【国别】:法国
【发布日期】:2006-06-01
【实施或试行日期】:2006-06-05
【发布单位】:法国标准化协会(AFNOR)
【起草单位】:
【标准类型】:()
【标准水平】:()
【中文主题词】:合金;化学成分;铬合金;含铬合金;钴合金;锻造;外科植入物;制造;材料性能;材料;机械性能;医学科学;金属的;金属材料;金属;微观结构;镍合金;含镍合金;生产;特性;外科学;试验;含钨合金
【英文主题词】:
【摘要】:
【中国标准分类号】:C35
【国际标准分类号】:11_040_40
【页数】:7P;A4
【正文语种】:英语


【英文标准名称】:StandardTestMethodforMeasuringBoronContaminationinHeavilyDopedN-TypeSiliconSubstratesbySecondaryIonMassSpectrometry
【原文标准名称】:用次级离子质谱法测量重掺杂N型硅基质中硼杂质的标准试验方法
【标准号】:ASTMF1528-1994
【标准状态】:作废
【国别】:美国
【发布日期】:1994
【实施或试行日期】:
【发布单位】:美国材料与试验协会(ASTM)
【起草单位】:ASTM
【标准类型】:()
【标准水平】:()
【中文主题词】:硼;污染;质谱学;半导体;硅半导体;试验;硼杂质;用次级离子质谱法;水晶硅基质;硅基质;N型重掺杂;次级铁离子质谱法
【英文主题词】:boron;contamination;siliconsemiconductors;secondaryionmassspectrometrysims;boroncontamination;bysecondaryionmassspectrometry;crystalsiliconsubstrates;epitaxialsubstrate;heavilydopedn;te
【摘要】:
【中国标准分类号】:L40
【国际标准分类号】:31_200
【页数】:
【正文语种】:英语


【英文标准名称】:DTU40.41-Buildingwork-Zincsheetandstriproofing-Part1:contractbilloftechnicalclauses.
【原文标准名称】:DTU40.41.建筑工程.锌薄板和带材屋顶.第1部分:技术条款的合同议案
【标准号】:NFP34-211-1-2004
【标准状态】:现行
【国别】:法国
【发布日期】:2004-09-01
【实施或试行日期】:2004-09-20
【发布单位】:法国标准化协会(AFNOR)
【起草单位】:
【标准类型】:()
【标准水平】:()
【中文主题词】:
【英文主题词】:
【摘要】:
【中国标准分类号】:Q17
【国际标准分类号】:91_060_20
【页数】:117P;A4
【正文语种】:其他